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雷尼紹攜光柵產品明星 傾力續參慕尼黑光博會
2016-3-7  來源:雷尼紹公司  作者:-


      作為亞洲最大的激光、光學、光電行業盛會,慕尼黑光博會將于3月15-17日在上海新國際博覽中心隆重舉辦。屆時將會集中展示涵蓋激光器與光電子、光學與光學制造、激光生產與加工技術、成像,檢測和質量控制四大板塊的全方位產品內容。
 

      雷尼紹連續三年傾力參加慕尼黑光博會這個贏得業界高度認可的行業盛會,在往屆得到了很好的展示反饋,展會期間每天均接待眾多高質量觀眾的技術與服務咨詢。作為世界領先的測量與過程控制解決方案供應商,雷尼紹今年將繼續攜旗下一系列精密位置反饋系統王牌產品亮相展會,包括ATOM™微型增量式光柵、RESOLUTE™絕對式光柵、TONiC™緊湊型接觸式光柵、RG2/RG4增量式光柵等。


      展臺現場特別設立ATOM™微型增量式光柵互動體驗區。屆時您蒞臨雷尼紹展臺可以親自動手操作,感受ATOM的安裝便捷和超強抗污性能,資深工程師的專業講解也將為您全方位解答各種應用難題。
 

      光學感應器和激光測量與檢測系統在生產、工業技術、醫療和科研領域中已不可或缺,是保證生產質量和效率的基礎。本次雷尼紹將亮相于W3號館檢測與質量控制展區, 期待著檢測領域的專家學者和行業用戶匯聚一堂,共同探討 產業應用發展和升級換代。
 

      誠邀閣下蒞臨雷尼紹展位,展位號W3-3402。
 
      我們將為閣下提供精準可靠的位置反饋產品和激光測量解決方案。


      ATOM™增量式光柵系統

 

  
     

 

     ATOM是一款雷尼紹隆重推出的、全新非接觸式的增量式直線光柵和圓光柵系統,它采用了獨特的創新設計,將微型化與優異的抗污能力、信號穩定性和可靠性完美結合。
 
      ATOM最小尺寸可達6.8 mm x 20.5 mm x 12.7 mm,是世界上第一款采用光學濾波系統及自動增益控制 (AGC) 和自動偏置控制 (AOC) 的微型光柵。
 
 
      ATOM讀數頭可提供各種型號,具有一流的精度、超低的電子細分誤差 (SDE)、極低的抖動、極高的信號穩定性和長期可靠性等優點,計量性能首屈一指。ATOM的工作速度可達20 m/s(在17 mm碼盤上為29,000 RPM),分辨率達1 nm(在108 mm碼盤上為0.004角秒),可提供不銹鋼及玻璃材質的直線柵尺和圓光柵。讀數頭還包含方便其進行快速安裝的LED安裝指示燈,以及可實現快速優化的自動校準程序。
  
  


      

    


     ATOM超小型讀數頭可用于激光掃描,坐標測量系統、半導體和平板顯示器的生產以及電機驅動系統、顯微鏡和科研領域。ATOM具有CE認證,由雷尼紹在極其嚴格的質控(獲得ISO 9001:2008認證)條件下自行制造。與所有雷尼紹光柵一樣,ATOM也由一個全球團隊支持,提供真正快捷的全球化服務。


     側出線型RESOLUTE™絕對式光柵


     雷尼紹另外一款明星,側出線型RESOLUTE絕對式光柵,圓光柵和直線光柵均有此選項。為滿足平板顯示器 (FPD)、電子零部件組裝及測試設備市場的需求,這種配置應運而生,它可與各種現有協議兼容。側出線極大增加了軸行程,是縱向空間有限的直線應用的理想選擇。該光柵可在同一柵尺上并列安裝讀數頭,從而允許在下述應用中控制軸上多個點,例如用于生產液晶顯示器 (LCD) 的液體分配系統,以及半導體生產、電子裝配和測試的各個階段。

 


 
     

 


     TONiC™緊湊型接觸式光柵

 

  
    

 


     雷尼紹TONiC系列產品是用于高動態精密運動系統的新一代超緊湊型光柵,為各種要求嚴格的工業領域提供了更高的精度、速度和可靠性。該讀數頭采用第三代光學濾波系統,噪聲(抖動)更低,具有極佳的可靠性和抗污染能力。TONiC讀數頭還有一個可分離的模擬或數字接口,該接口為堅固耐用、使用方便的接頭,可放置在距讀數頭不超過10 m遠的地方。接口提供的數字信號經細分后分辨率可達1 nm,定時輸出數字信號保證了所有分辨率下各種工業標準控制器的最佳速度性能。


     展出的另一個亮點是雷尼紹公司的激光干涉儀和球桿儀測量系統,用于評估、監控并提高機床、坐標測量機 (CMM) 及其他位置精度要求關鍵的運動系統的靜態和動態性能。


     XR20-W無線型回轉軸校準裝置

 

  
    

 


     XR20-W采用無線電動控制,數據采集與軸運動同步,即在數據采集期間無需操作員干預。該裝置與雷尼紹激光系統配合使用,通過遠控的方式為被測機床提供高度統一的非接觸基準測量。使用XR20-W回轉軸校準裝置及早對回轉軸進行誤差檢測,能夠使機床發揮最佳性能。


 
      XL-80激光干涉儀

  


  
      

 


     XL-80激光干涉儀不僅可測量直線定位、俯仰及扭擺角度、直線度及垂直度等靜態幾何精度,還可用于機器振動、頻譜分析、運動速度及角速度測量分析等動態場合。它廣泛應用在數控機床及坐標測量機精度檢測、計量器具(包括部分光學儀器)的溯源檢定及其他大范圍、高精度、高速動態測量等工業領域。

 

     關于雷尼紹


     雷尼紹公司 (Renishaw plc) 是世界測量和光譜分析儀器領域的領導者。我們開發的創新產品可顯著提高客戶的經營業績 — 從提高制造效率和產品質量、極大提高研發能力到改進醫療過程的功效。


     我們的產品可廣泛應用于機床自動化、坐標測量、快速成型制造、比對測量、拉曼光譜分析、機器校準、位置反饋、牙科CAD/CAM、形狀記憶合金、大尺寸范圍測繪、立體定向神經外科和醫學診斷等領域。在所有這些領域,我們的目標都是成為長期合作伙伴,不管現在還是將來,都始終如一地提供滿足客戶需求的優異產品,并提供快捷、專業的技術和商業支持。


     了解詳細產品信息,請訪問雷尼紹網站:


     激光干涉儀與球桿儀  
www.renishaw.com.cn/calibration
     位置編碼器  
www.renishaw.com.cn/encoders

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